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探讨工艺离子污染测试(PICT)标准圆桌会议概要
标准委员会发布了4项新测试标准中的第一项标准之后,I-Connect007于2020年4月17日召开圆桌会议,特邀几位行业专家共同探讨最近由IEC发布的工艺离子污染测试(PICT)标准。与会的专家有I ...查看更多
探讨工艺离子污染测试(PICT)标准圆桌会议概要
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Kunal Shah博士的技术论文荣获多个大奖
近日,Nolan Johnson采访了LiloTree公司首席执行官Kunal Shah博士。Kunal Shah博士介绍了他的一篇技术论文,该论文获得了国内论文类的最高荣誉,并获得2020年IPC ...查看更多
Bob Neves访谈:汽车与5G用电路板的导通孔可靠性和稳健性
在IPC APEX展会期间我很高兴得采访了我的老朋友Bob Neves先生。Bob在微孔及通孔测试技术上有一些令人兴奋的新信息。 Happy Holden:Bob,让我们开始讨论这个大新 ...查看更多
解读iNEMI的PCB发展路线图
iNEMI项目经理Steve Payne与Isola Group首席技术官Ed Kelley在一次信息丰富、富有启发性的网络研讨会上,共同阐释、总结和讨论了近期出版的《iNEMI 2019有机PCB发 ...查看更多
解读iNEMI的PCB发展路线图
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